偏振X射線熒光光譜儀的貴金屬分析

  近期全新推出SPECTROCUBE型X射線貴金屬測試儀器，采用高分辨、高計數檢測器技術，縮短了樣品的測量間隔，儀器軟件直觀、簡捷，測試流程輕松流暢，大大減少了宕機時間。

  貴金屬分析

  SPECTROCUBE型X射線貴金屬測試儀器作為新儀器的推出，為測試中心、純度標識和分析實驗室，以及珠寶制造商提供了簡單、可靠、準確、高通量的分析手段。其分析速度是同類儀器的兩倍。

  同類產品中測試速度：是典型測試速度的兩倍，高精度分析僅需15秒

  分析范圍寬和準確性高：一次分析，同時檢定30多種元素, 包括痕量元素

  整機的易用性：只需簡單的三步，即可得到精確的、完美的全分析結果

  設計緊湊、操作簡便

  SPECTROCUBE型X射線貴金屬測試儀所采用的測試流程快捷、平順，只需接受簡單的培訓即可流暢準確地操作儀器，顯示了的易用性。檢測所需的相關信息直觀地顯示在同一屏幕上，只需三個簡單步驟即可實現樣品的全分析。

  緊湊的設計減少了儀器的占地面積，可放置在狹小的工作空間里。但樣品室非常寬大，可接納范圍廣泛、大小不同的樣品。對于大多數分析來說，SPECTROCUBE僅需一次校準，即可達到貴金屬分析所需的準確度。

  的分析速度

  的分析速度和性能是SPECTROCUBE核心競爭力的體現。SPECTROCUBE的校正曲線高精度地覆蓋寬廣的濃度范圍，加之標準測試時間低至15秒，因此每天可處理數以百計的樣品。對于形狀不同、大小不一珠寶樣品，該儀器可使用0.2毫米的焦斑進行微區分析，該焦斑是行業中小的焦斑尺寸之一。

  SPECTROCUBE由久經錘煉、精心挑選的部件組裝、制造而成。可在嚴苛的質量體系中實現高通量、低故障、全天候連續使用，具有令人信服的可靠性，在整個儀器的生命周期內可顯著降低操作、維護成本，以及持有成本。

  與許多其他XRF分析儀不同，SPECTROCUBE采用了全新的高分辨硅漂移檢測器（SDD），可檢測記錄到少量和微量“非貴”的雜質元素成分。與上一代XRF貴金屬檢測儀相比，在同等測量時間內SPECTROCUBE所記錄的信號強度是前一代機型的三倍。