xrf熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法

　　當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。

　　xrf熒光光譜儀工作原理：

　　用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長分開，分別測量不同波的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。

　　xrf熒光光譜儀對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監(jiān)控。熒光分析儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據布拉格定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式、同時式譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。

　　xrf熒光光譜儀產品優(yōu)點：

　　1、采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。

　　2、測試速率高，可設定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。

　　3、對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。

　　4、分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場分析，從而達到快速檢測。

　　5、分析結果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎上。