CMOS與CCD直讀光譜儀檢測(cè)器的比較

在直讀光譜儀的世界里，我們主要有兩種類型的設(shè)備：CCD和CMOS。對(duì)于熟悉這一領(lǐng)域的專家來說，直讀光譜儀的檢測(cè)部件是至關(guān)重要的，尤其是檢測(cè)器鏡頭。現(xiàn)在，讓我們來探討一下在光譜儀檢測(cè)鏡頭中，CMOS相比CCD所展現(xiàn)出的一些顯著優(yōu)勢(shì)。

首先，我們來看直讀光譜儀：

信噪比：

CMOS的信噪比比CCD低了將近100倍，這意味著CMOS的檢出限比CCD低很多，因此測(cè)量樣品的穩(wěn)定性也更好。

成本：

從成本角度來看，CCD相對(duì)于CMOS成本要高出不少。

分辨率：

CMOS直讀光譜儀由于設(shè)備的動(dòng)態(tài)范圍提升，準(zhǔn)確測(cè)量譜圖中暗區(qū)域的能力也提高了，這預(yù)示著在低信號(hào)水平下將有更強(qiáng)的分辨能力。

功耗：

CMOS傳感器的光信號(hào)采集方式為主動(dòng)式，感光二極管所產(chǎn)生的電荷會(huì)直接由晶體管放大輸出。而CCD傳感器為被動(dòng)式采集，需外加電壓讓每個(gè)像素中的電荷移動(dòng)，這使得CCD的功耗遠(yuǎn)高于CMOS，且發(fā)熱量更大，對(duì)儀器的散熱和恒溫效果要求更苛刻。

靈敏度：

CMOS檢測(cè)器比CCD檢測(cè)器具有更高的光敏性。

動(dòng)態(tài)范圍：

CMOS比CCD有更大的動(dòng)態(tài)范圍提升，這有助于提高測(cè)量光強(qiáng)很弱的暗區(qū)域的能力，從而提高測(cè)量低含量元素的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

技術(shù)發(fā)展：

CMOS技術(shù)正在不斷發(fā)展，逐漸彌補(bǔ)了原先的缺陷，并且易于將周邊電路集成，這是CMOS的一個(gè)顯著優(yōu)點(diǎn)。